时间轴和采样周期和可记录时间 存储记录仪
以MR8870-30为例说明如下:
【可记录时间=时间轴×记录长度】※时间轴(TIME/DIV)=采样周期×100组数据
MR8870-30主机的最大记录长度(MAX)20,000DIV、100ms采样率(周期)=10s/DIV(时间轴)
那么就是10s×20,000DIV=200,000s=约55.5h=约2天7小时33分20秒
超长时间的测量数据存储,多种类型的信号同时采集,多应用场景的机型选择
高精度功率解析、宽频带多通道测量、全维度电能质量评估
覆盖电池,电子零部件,半导体行业从研发到产线的全面测试方案
电气安全相关测量仪表
适用于丰富场景的高精度电流传感器
现场测量,精益求精
直流高压检测仪器,助力光伏运维安全
PCB电路板及实装基板的自动测试设备
迅速发现中国前沿客户的需求,及时提供完善的解决方案
全产业链?全生命周期
电动汽车全链条测试
涵盖氢能、可再生能源发电及储能、输配电、用电、节能与碳中和等全部电力环节,提供全面专业测试方案,并助力电力行业安全、高效运行。
被动器件从研发到生产的全领域测试
低空飞行器与机器人生产研发全周期测试
面向数据中心与交通运输领域的全场景电气测试
以MR8870-30为例说明如下:
【可记录时间=时间轴×记录长度】※时间轴(TIME/DIV)=采样周期×100组数据
MR8870-30主机的最大记录长度(MAX)20,000DIV、100ms采样率(周期)=10s/DIV(时间轴)
那么就是10s×20,000DIV=200,000s=约55.5h=约2天7小时33分20秒