想要精度准确测量电阻（低电阻）
请注意以下内容。
＜＜ 导线电阻·接触电阻�。荆�
特别是测量低电阻时，一般来说电阻测量中用的导线（测试线）和导线自身的电阻和接触电阻会成为测量误差。为了排除导线电阻、接触电阻的影响准确测量，需要用4端子测量。
※接触电阻
接触面的粗糙度和氧化膜、油、锈迹、灰尘等垃圾的附着造成接触面产生电阻。
接触电阻根据环境条件可达到几Ω~几十Ω，这个值一般不稳定，因此用万用表等2端子测量是难以准确测量的。
＜＜ 热电动势�。荆�
热电动势是指不同金属之间的接触部分产生的微小电压。电阻测量中,“探头和被测物”、“探头和测试仪”的接触部分会产生热电动势。另外，金属的种类根据环境温度，值也会不同。使用I-V法※1的直流电阻计，热电动势会影响测量值，成为测量误差。为了排除热电动势的影响，尽量使热电动势较小的金属之间接触，或者最方便的是使用电阻计的OVC功能※2。
※交流电阻计在测量原理上，可以不受热电动势的影响进行测量。
※1 I-V法：电流-电压法。施加电流（或电压）测量电压（或电流）的测量方法。
※2 OVC功能：是指偏移电压补偿功能。为了减轻热电动势的影响，配备于对应机型的电阻计。
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＜＜ 泄漏电流�。荆�
测量高电阻时，请用专用的带屏蔽的测试电缆进行保护。这样可以让泄漏电流留向屏蔽，不通过测试仪内的电流检测电路，测量值就不会出现泄露电流的影响。
＜＜ 注意元器件的特性�。荆�
磁性电阻元件（接点·MR元件·片式电感器）的测量中需要注意不损坏元器件的特性。
接点·MR元件·片式电感器如果用较大的电流测量，则会让被测物的特性发生变化，或损坏特性。
--影响示例—
接点：破坏表面的氧化膜，测量的阻值较低。
MR元件:可能因大电流破坏。
片式电感器：可能因大电流发生磁化。
这样的测量是很精巧的，要使用低电流测量功能来测量。
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＜＜ 外来干扰�。荆�
荧光灯或马达等发出的电磁场的外来干扰使得测量值不稳定。
荧光灯和工频电源线路与测试线静电耦合，特别是检测电流小的高阻测量中，会对测量结果产生影响。由静电耦合带来的外来干扰通过屏蔽测试线可减轻影响。
变压器等发出的磁场与测试线磁耦合产生外来干扰。磁耦合带来的外来干扰可通过尽量缩小测试线的回路或是让测试线远离磁场发生源等方法来减轻影响。
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＜＜ 温度变化�。荆�
较大的环境温度变化会使得测试仪的显示值不稳定，产生测量误差。请在保证温度范围内进行使用。在超出范围的环境下使用时，请乘以精度范围规定的温度系数。
※温度系数记载于产品附带的使用说明书。
